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產(chǎn)品介紹

薄膜熱導率測試系統 TCT 是采用 3ω測試方法，利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來(lái)檢測其熱導率。主要應用范圍為微/納米薄膜材料的熱導率測量，可廣泛應用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開(kāi)發(fā)，其涵蓋范圍包括集成電路散熱材料、熱阻材料、熱電材料、信息存儲與光電材料等。

產(chǎn)品特點(diǎn)

采用3ω測試方法，利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來(lái)檢測其熱導率；

不直接測量溫度變化，而是通過(guò)測量材料在導熱過(guò)程中溫度的變化轉換為電信號的變化，來(lái)實(shí)現微/納米薄膜材料的熱導率測試；

采用交流電加熱方式，同時(shí)選擇并優(yōu)化設計加熱電極的形狀與尺寸，可確保加熱均勻性及測試應用的廣泛性；

待測薄膜樣品材料尺寸極小，所以能有效減小黑體輻射引起的測量誤差；

高精度數字源表并結合鎖相放大技術(shù)，保證測量結果的準確性；

優(yōu)化的加熱電極的形狀與尺寸設計，可保證加熱均勻性及測試應用的穩定性